5月13日上午，第十屆IEEE下一代電子國際學術會議（ISNE 2023）暨第一屆無錫集成電路產研融合發(fā)展高峰論壇在無錫高新區(qū)舉行。中國工程院院士、浙江大學微納電子學院院長吳漢明，高新區(qū)黨工委書記、新吳區(qū)委書記崔榮國，江南大學黨委常委、副校長倪松濤，市工信局局長馮愛東，區(qū)領導顧國棟、朱曉紅、劉成，大會創(chuàng)辦主席IEEE Fellow劉俊杰，以及來自全球集成電路領域的頂級專家學者、產業(yè)大咖出席活動。無錫廣電計量作為第一批唯一的第三方技術服務型單位，入選測試服務(EMI/EMC 測試) 和失效分析及可靠性 (FIB分析) 服務子平臺。
活動現場
簽約儀式上，吳漢明、崔榮國、倪松濤、馮愛東、顧國棟、朱曉紅、劉成、劉俊杰共同見證無錫國家“芯火”雙創(chuàng)基地（平臺）與無錫廣電計量、華潤安盛、迪思微、東南大學無錫集成電路技術研究所、芯啟博、納瑞電子6家服務子平臺合作簽約。本次簽約的子平臺可優(yōu)先為本地集成電路企業(yè)提供包括失效分析及可靠性、測試服務、晶圓制造服務、封裝服務等在設計、制造、封測等關鍵節(jié)點的公共技術專業(yè)服務，將進一步整合無錫集成電路產業(yè)公共服務資源與服務能力，實現資源優(yōu)勢互補、降本增效、協(xié)同發(fā)展。
簽約儀式
在集成電路測試與分析領域，廣電計量目前已投入300多臺高端檢測分析設備，形成了以博士、專家為核心的人才隊伍；打造了8個專項實驗室，1個功能安全認證中心，全面提升在元器件篩選與國產化驗證、半導體器件與模塊質量提升工程，以及車規(guī)級芯片AEC-Q認證這三大板塊的檢測和科研咨詢服務核心競爭力，并完善半導體材料分析技術及集成電路量產測試技術能力，全方位打造一流的半導體產業(yè)檢測服務平臺。
廣電計量集成電路測試與分析實驗室
廣電計量電磁兼容檢測實驗室
IEEE下一代電子國際學術會議（ISNE）是由“IEEE”與“IEEE Electron Devices Society”聯(lián)合發(fā)起的大型國際學術系列會議。本屆活動以“芯未來 與時代同頻”為主題，邀請到50余名院士和專家，以及來自北京大學、浙江大學、上海交通大學、復旦大學、南京大學等十余所知名高校的300余名學者和產業(yè)專家出席活動。會議重點圍繞“先進集成電路設計及可靠性研究”“功率器件及集成電路”“集成光電器件”“新一代通信技術”“第三代半導體技術”“低維半導體材料及器件”“新型傳感器研發(fā)及應用”等微電子、集成電路、信息控制及物聯(lián)網應用領域的熱點問題和最新研究成果進行交流研討。
廣電計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測上市公司。無錫廣電計量是廣電計量的全資子公司，是無錫市重點計量檢測機構、無錫市質量發(fā)展服務聯(lián)盟的主要發(fā)起單位之一，并與無錫市合力打造科技公共服務平臺，為長三角經濟圈的半導體、汽車、航空、軌道交通、食品等國民經濟重要行業(yè)和領域提供計量檢測技術支撐。同時依托母公司形成了覆蓋全國的技術服務保障能力，可為各行業(yè)領域客戶提供便捷的技術服務。